東莞 回收 Fluke/福祿克 Ti32熱像儀 Ti400高精度熱像儀

福祿克Ti32 詳細(xì)技術(shù)指標(biāo)
溫度 溫度測(cè)量范圍（-10 °C 以下未經(jīng)校準(zhǔn)） -20 ℃ ～ +600 ℃
準(zhǔn)確度 ± 2 ℃ 或者 2 %，取大值
發(fā)射率修正 是
背景溫度補(bǔ)償 是
傳輸校正 是
成像性能 圖像捕捉頻率 9 Hz 刷新率或 60 Hz 刷新率，取決于型號(hào)
探測(cè)器類型 320 x 240 焦平面陣列，非制冷微測(cè)輻射熱計(jì)
熱靈敏度（NETD） ≤ 0.045 ℃，（30 ℃ 目標(biāo)溫度時(shí)）（45 mK）
光譜帶 7.5 μm ～ 14 μm（長(zhǎng)波）
可見(jiàn)光照相機(jī) 200萬(wàn)像素
**小焦距 46 cm（約 18 in）

Fluke/福祿克Ti400 詳細(xì)技術(shù)指標(biāo)
溫度
溫度測(cè)量范圍（-10°C 以下未校準(zhǔn)） -20 °C 至 +1200 °C
（-4 °F 至 +2192 °F）
精度 ± 2 °C 或 2 %（25 °C 時(shí)，取讀數(shù)較大值）
屏顯發(fā)射率校正 是（根據(jù)數(shù)字和表格）
屏顯反射背景溫度補(bǔ)償 有
屏顯傳輸校正 有
成像性能
圖像捕捉頻率 刷新率：9 Hz 或 60 Hz（取決于型號(hào)）
探測(cè)器類型 320 x 240 像素焦平面陣列，非致冷型微測(cè)輻射熱計(jì)
熱敏度 (NETD) 30 °C 目標(biāo)溫度時(shí)，≤ 0.05 °C(50 mK)
總像素 76,800
紅外光譜帶 7.5 μm 至 14 μm（長(zhǎng)波）
可視（可見(jiàn)光）照相機(jī) 工業(yè)性能，500 萬(wàn)像素

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