EOS/ESD造成的客退情形不曾間斷，IC過(guò)電壓承受能力較低，產(chǎn)品就有損壞風(fēng)險(xiǎn)。
對(duì)成品廠商而言，除了要求IC供貨商測(cè)試到所要求的ESD防護(hù)等級(jí)，對(duì)于所選用的IC，其承受EOS的能力也更加關(guān)注。
GRGT技術(shù)服務(wù)
廣電計(jì)量（GRGT）能協(xié)助您進(jìn)行測(cè)試，提供Test to Fail的驗(yàn)證與失效模式報(bào)告。藉此了解芯片組件脆弱點(diǎn)與靜電承受度，作為您后續(xù)系統(tǒng)設(shè)計(jì)、芯片電路設(shè)計(jì)調(diào)整、甚至后續(xù)RMA失效分析的依據(jù)。
1.人體放電模式(Human Body Mode)測(cè)試；
2.機(jī)器放電模式(Machine Mode)測(cè)試；
3.組件充/放電模式(Charged Device Mode)測(cè)試；
4.制具式組件充/放電模式(Socket-Charge Device Mode)測(cè)試；
5.閂鎖效應(yīng)(Latch-up)測(cè)試；
6.靜電放電閂鎖測(cè)式(Transient-Induced Latch up)；
7.系統(tǒng)級(jí)靜電放電模式(System ESD Test–ESD GUN TEST)；
8.測(cè)試ESD I-V Curve量測(cè)；
9.過(guò)度電性應(yīng)力EOS(Electrical Overstress)測(cè)試；
GRGT服務(wù)優(yōu)勢(shì)
l豐富的ESD測(cè)試經(jīng)驗(yàn)：提供有效的測(cè)試方案，讓您能輕易找出產(chǎn)品問(wèn)題點(diǎn).
l快速交期：三班制24小時(shí)運(yùn)作.
l測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確度：靜電測(cè)試設(shè)備搭配自主建立之設(shè)備維修保養(yǎng)機(jī)制定期定檢保障設(shè)備輸出，將可協(xié)助客戶取得高精準(zhǔn)度之測(cè)試結(jié)果，降低設(shè)備不正常輸出造成的測(cè)試結(jié)果差異。
公司簡(jiǎn)介：
廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司（GRGT）是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站，經(jīng)過(guò)50余年的發(fā)展，現(xiàn)已成為一家全國(guó)化、綜合性的國(guó)有第三方計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，專(zhuān)注于為客戶提供計(jì)量、檢測(cè)、認(rèn)證以及技術(shù)咨詢與培訓(xùn)等專(zhuān)業(yè)技術(shù)服務(wù)，在計(jì)量校準(zhǔn)、可靠性與環(huán)境試驗(yàn)、元器件篩選與失效分析檢測(cè)、車(chē)規(guī)元器件認(rèn)證測(cè)試、電磁兼容檢測(cè)等多個(gè)領(lǐng)域的技術(shù)能力及業(yè)務(wù)規(guī)模處于國(guó)內(nèi)**水平。
GRGT目前具有以下芯片相關(guān)測(cè)試能力及技術(shù)服務(wù)能力：
芯片可靠性驗(yàn)證(RA)：
芯片級(jí)預(yù)處理(PC)&MSL試驗(yàn)、J-STD-020&JESD22-A113；
高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)(HTSL),JESD22-A103；
溫度循環(huán)試驗(yàn)(TC),JESD22-A104；
溫濕度試驗(yàn)(TH/THB),JESD22-A101；
高加速應(yīng)力試驗(yàn)(HTSL/HAST),JESD22-A110；
高溫老化壽命試驗(yàn)(HTOL),JESD22-A108；
芯片靜電測(cè)試(ESD)：
人體放電模式測(cè)試(HBM),JS001；
元器件充放電模式測(cè)試(CDM),JS002；
閂鎖測(cè)試(LU),JESD78；
TLP；Surge/EOS/EFT；
芯片IC失效分析(FA)：
光學(xué)檢查(VI/OM)；
掃描電鏡檢查(FIB/SEM)
微光分析定位(EMMI/InGaAs)；
OBIRCH；Micro-probe;
聚焦離子束微觀分析(FIB)；
彈坑試驗(yàn)(cratering)；芯片開(kāi)封(decap)；
芯片去層(delayer)；晶格缺陷試驗(yàn)(化學(xué)法)；
PN結(jié)染色/碼染色試驗(yàn)；
推拉力測(cè)試(WBP/WBS)；紅墨水試驗(yàn)：
PCBA切片分析(X-section)；
芯片材料分析：
高分辨TEM(形貌、膜厚測(cè)量、電子衍射、STEM、HAADF)；
SEM(形貌觀察、截面觀察、膜厚測(cè)量、EBSD)；
Raman(Raman光譜)；AFM(微觀表面形貌分析、臺(tái)階測(cè)量)；
廣州廣電計(jì)量檢測(cè)股份有限公司（GRGT）始建于1964年，是原信息產(chǎn)業(yè)部電子602計(jì)量站，經(jīng)過(guò)50余年的發(fā)展，現(xiàn)已成為一家全國(guó)化、綜合性的國(guó)有第三方計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)。廣電計(jì)量的資質(zhì)能力處于行業(yè)*水平，其中CNAS認(rèn)可3408項(xiàng)，CMA認(rèn)可1990項(xiàng)，CATL認(rèn)可覆蓋55個(gè)類(lèi)別；在支撐各區(qū)域產(chǎn)業(yè)高質(zhì)量發(fā)展過(guò)程中，廣電計(jì)量還獲眾多榮譽(yù)稱號(hào)。
廣電計(jì)量打造了一支技術(shù)水平和服務(wù)意識(shí)俱佳的服務(wù)隊(duì)伍，現(xiàn)有員工4000多人，其中包括各領(lǐng)域?qū)＜液图夹g(shù)帶頭人50多人，博士后、博士30人，碩士380多人。
廣電計(jì)量建有技術(shù)研究院，在新能源汽車(chē)、軌道交通、無(wú)線通信等領(lǐng)域，先后主持編寫(xiě)30多項(xiàng)*和地方計(jì)量測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)及規(guī)程，承擔(dān)50多項(xiàng)國(guó)家、省部級(jí)等重點(diǎn)科研項(xiàng)目，累計(jì)獲得專(zhuān)利*247項(xiàng)，另獲得軟件著作權(quán)119項(xiàng)，積極推動(dòng)了行業(yè)新技術(shù)的創(chuàng)新和產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用。
業(yè)務(wù)聯(lián)系：張經(jīng)理：186-2090+8348；
郵箱：zhanghp grgtest.com