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詳細(xì)介紹
HY(SL)三輪測試儀根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進(jìn)行三輪測試。卡被放到機(jī)器中，測試輪將循環(huán)測試100次，芯片前方滾動50次，芯片后方滾動50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，向下的壓力為8N。經(jīng)過測試，檢查芯片情況，芯片應(yīng)該是完好無損且功能正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)推薦的測試。
聯(lián)系方式
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HY(SL)三輪測試儀根據(jù)Master 卡CQM項目對卡進(jìn)行三輪測試。卡被放到機(jī)器中，測試輪將循環(huán)測試100次，芯片前方滾動50次，芯片后方滾動50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，向下的壓力為8N。經(jīng)過測試，檢查芯片情況，芯片應(yīng)該是完好無損且功能正常。測試儀配有額外的一個15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)推薦的測試。
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